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高分·智绘中国——第六届高分辨率对地观测学术年会盛大开幕

2019年9月20日至22日,第六届高分辨率对地观测学术年会在成都召开。

  2019年9月20日至22日,第六届高分辨率对地观测学术年会在成都召开。

  本届年会以“高分·智绘中国”为主题,围绕服务高分辨率对地观测国家科技重大专项建设,瞄准高分数据资源共享与成果推广应用,聚焦对地观测领域新挑战、新技术和产业化发展等,邀请国内高分辨率对地观测领域院士、资深专家,以及科研机构、产业界代表等,集思广益,共谋我国高分辨率对地观测事业发展大计。
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  大会现场 

  年会设置学术交流与产业论坛、成果发布、展览展示、科普活动、科技竞赛等5大板块,邀请中国科学院空天信息创新研究院吴一戎院士、中国科学院上海分院王建宇院士、武汉大学龚健雅院士以及11位资深专家做大会报告,围绕航空遥感系统、地面系统等发布重要成果,设立对地观测新概念与前沿技术、系统平台与总体技术、先进载荷技术、高性能处理技术4个学术交流分会,举办商业航天背景下的高分产业应用与发展、遥感导航应用技术、知识产权与标准化3个具有特色的产业论坛,共同交流高分辨率对地观测领域取得的最新研究成果,就后续发展建言献策。
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  大咖云集 

  此外,本届年会还面向在校大学生和科研团队,先期组织开展了第三届“中科星图杯”图像解译软件大赛、第三届高分+北斗无人飞行器智能感知技术竞赛、第二届“航天天绘杯”高分北斗技术和应用解决方案大赛。年会开幕式现场,与会领导和专家共同为竞赛获奖团队、年会优秀论文作者、青年创新基金获奖作者颁奖。
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  第三届“中科星图杯”图像解译软件大赛获奖团队  
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  第三届高分+北斗无人飞行器智能感知技术竞赛获奖团队  
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  第二届“航天天绘杯”高分+北斗应用解决方案大赛获奖团队  
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  为年会优秀论文获奖作者颁奖  
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  为年会青年创新基金获奖作者颁奖  

  自2012年以来,年会已成功举办五届,走遍北京、上海、武汉、西安等城市,有效带动高分辨率对地观测技术融合发展,显著增进高分辨率对地观测最新技术成果在各领域的快速转化应用。年会聚焦融合创新技术热点,充分研讨交流对地观测领域新思想、新技术、新方法和新发展,持续推动我国高分辨率对地观测技术创新及产业升级,成为我国高分辨率对地观测学术交流的国家品牌。

  本届年会由高分辨率对地观测系统专项管理办公室、中国科学院重大科技任务局、中国航天科技集团有限公司、中国航天科工集团有限公司、中国电子科技集团有限公司、中国航空工业集团有限公司、中国兵器工业集团有限公司指导,高分辨率对地观测学术联盟主办,由电子科技大学、中国科学院光电技术研究所、中国电子科技集团公司第二十九研究所、航空工业成都飞机设计研究所、中国兵器工业集团北方激光研究院有限公司等单位承办。

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